Övrig

Statistical Analysis and Modelling of Spatial Point Patterns

av

Janine Illian, Antti Penttinen, Helga Stoyan, Di Stoyan

Beskrivning:

Fakta

Förlag:: Wiley
ISBN:: 9780470725160
Bandtyp:: Övrig
Utgiven:: 2008-03-31
Språk:: Engelska
Upplaga:: 1
Antal Sidor:: 560

Produkten finns inte i någon butik

Obs! Glöm inte att alltid kolla priset hos återförsäljaren!

bookify.se är en specialist inom prisjämförelse av böcker och studentlitteratur. Vi hjälper dig att hitta de billigaste böckerna genom att jämföra priser bland Sveriges största e-bokhandlare.